磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)工作原理：
位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以**地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂/鍍層厚度。
由于工作原理，因此涂層測(cè)厚儀在使用時(shí)，對(duì)環(huán)境也有一定要求，涂層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)，易受測(cè)量基體磁化、厚度，測(cè)量物件的曲率等多做因素影響，如何解決這類問題，以下我們?yōu)榇蠹易鰝€(gè)簡(jiǎn)單的說明：
影響測(cè)量的若干因素：
1、基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
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