美國泛美35DL精密超聲波測厚儀
美國泛美35DL精密超聲波測厚儀一般應可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測量；

35和35DL用于大多數(shù)的應用中
35和35DL可使用的探頭范圍從2.25到30MHz，這意味著這些多功能型儀器可以解決大部分從極薄到極厚的厚度測量應用。35高精度超聲波測厚儀選配高頻小直徑的探頭（M208探頭）用于較薄或者曲面工件的測量，并且能提高測量的精度。

美國泛美35和35DL精密超聲波測厚儀應用
--從薄到厚的大多數(shù)材料
--薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
--薄至0.10mm（或0.004英寸）的金屬容器、鋼圈、機械加工零件
--氣缸內(nèi)孔，渦輪葉片
--玻璃燈泡，瓶子
--薄的纖維玻璃，橡膠，陶瓷和復合材料
--小半徑曲面和容器
--分辨率高達0.001mm或0.0001″

美國泛美35DL高精度超聲波測厚儀新功能：

實時A-SCAN（波形）和調(diào)節(jié)模式（選項）
B-掃描
DB 柵格顯示
35DL系列功能

對所有的型號，聲速和減薄率測量是正常模式
從0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度測量范圍，取決于儀器和材料
使用直接接觸式、延遲式和水浸式探頭
具有默認設置和用戶自定義設置應用自動－調(diào)用功能
手持式，重量僅8.5oz.（0.24kg）
*小/*大值模式
高－低報警
英制和公制單位顯示（英寸/毫米）
35DL高精度超聲波測厚儀多種語言用戶界面
長的電池壽命

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